设备型号：AJ－Ⅲ

设备产地：上海

技术特点：样品尺寸φ≤10mm，扫描范围10μm×10μm ，轻敲模式分辨率XY方向0.4nm、Z方向0.1nm ，针尖逼近行程及精度：行程≥10mm，精度≤0.1μm ，步进电机自动驱近。
    设备用途：通过可手动调节的控制台对测量样品施加微小形变，测试探针与样品之间的作用力及力曲线，从而达到在微观尺度测量材料力学的性能的目的；对金属、半导体、陶瓷、有机物、高分子、生物体等样品的表面可在纳米尺度下进行观测；可应用于材料科学、物理学、化学、电子学、半导体、生物及生命科学等领域。

责任人：黄先威 副教授/博士