设备型号：TriStar® II 3020系列

设备产地：美国

技术特点：比表面测量范围为氮气吸附0.01m2/g 至无上限，氪气吸附0.0001m2/g 至无上限；孔径分析范围：3.5 埃～5000 埃；测量5 点BET 比表面仅需20 分钟；重复性优于1％；.真正的三站同时测量。

设备用途：可同时进行三个样品的分析从而提高分析效率，提供全吸附、脱附曲线、BET及Langmuir比表面、平均孔尺寸和单点总孔体积、面积分布、。

责任人：黄宪威 教授